Choisissez la manière dont l’appareil photo règle l’exposition en modes P, S, A et M (dans les autres modes, l’appareil sélectionne automatiquement la méthode de mesure).

Pour choisir une option de mesure, appuyez sur la commande W (Z) et tournez la molette de commande principale jusqu’à l’apparition du réglage souhaité.

Commande W (Z)

Molette de commande principale

Écran de contrôle

Visée écran

En visée écran, l’option sélectionnée s’affiche sur le moniteur.

Mesure pondérée sur les hautes lumières

La mesure pondérée centrale peut être utilisée si la mesure pondérée sur les hautes lumières est sélectionnée avec certains objectifs à microprocesseur (pour les objectifs NIKKOR AI-P et AF n'étant pas de type G, E, ou D ; 0 Pour reconnaître les objectifs à microprocesseur et les objectifs de types G, E et D).

Informations complémentaires

Pour en savoir plus sur :

  • l’utilisation de la détection des visages en mode de mesure matricielle, reportez-vous à A > Réglage personnalisé b4 (Mesure matricielle, 0 Mesure matricielle).
  • la manière de modifier certains réglages afin d’obtenir une exposition optimale avec chaque méthode de mesure, reportez-vous à A > Réglage personnalisé b6 (Réglage précis expo. opti., 0 Réglage précis expo. opti.).